一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法
授权
摘要
本发明涉及密封面测量缺陷识别技术领域，具体公开了一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法。该方法包括：1、采集主泵法兰密封面点云数据；2、对点云数据进行预处理；5、根据主泵法兰密封面的点云数据，进行缺陷识别；5.1、建立误差色谱图；5.2、利用误差色谱的颜色变换梯度，获得梯度变换超过阈值的像素点所围城的封闭区域，实现对密封面缺陷的自动识别。该方法克服来现有测量方法无法实现原位、高精度、高效率自动化测量的缺陷；同时，基于测量原始点云数据自动评估零件2D尺寸误差、圆度/平面度误差，识别表面缺陷，简化了数据处理和误差评估的过程，提升了效率和精度，克服来传统方法获取深度信息困难的缺点。
基本信息
专利标题 ：
一种光学测量点云的密封面误差评估缺陷识别方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111426282A
申请号 ：
CN201811574410.1
公开（公告）日 ：
2020-07-17
申请日 ：
2018-12-21
授权号 ：
CN111426282B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
李莉郝庆军李文龙崔建新帅三娥张高剑
申请人 ：
核动力运行研究所;中核武汉核电运行技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区民族大道1021号
代理机构 ：
核工业专利中心
代理人 ：
李东斌
优先权 ：
CN201811574410.1
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-08-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20181221
申请日 : 20181221
2020-07-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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