用于ARM设备的内存校验方法和执行内存校验的ARM设备

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摘要

提供了一种用于ARM设备的内存校验方法和执行内存校验的ARM设备。该ARM设备包括中央处理器和协处理器，所述中央处理器能够操作在普通域和安全域，该内存校验方法包括：通过中央处理器在普通域接收安全监控调用SMC指令；响应于该SMC指令，所述中央处理器从普通域切换到安全域进行操作，并使能该ARM设备的协处理器；通过所述协处理器执行内存校验计算，并将计算结果输出到所述安全域中；和通过所述中央处理器将所述计算结果与用于内存校验的比对数据进行比对，基于所述比对确定内存校验结果，并将所述内存校验结果输出到普通域中。

基本信息

专利标题：

用于ARM设备的内存校验方法和执行内存校验的ARM设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109684126A

申请号：

CN201811589122.3

公开（公告）日：

2019-04-26

申请日：

2018-12-25

授权号：

CN109684126B

授权日：

2022-05-03

发明人：

刘航隆婷于永庆靳慧杰金正雄刘戈

申请人：

贵州华芯通半导体技术有限公司

申请人地址：

贵州省贵阳市贵安新区黔中大道与金马大道交汇处斯特2楼

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

张银英

优先权：

CN201811589122.3

主分类号：

G06F11/10

IPC分类号：

G06F11/10 G06F12/06 G06F12/0802