变形测试仪

授权

摘要

本发明提供一种变形测试仪，在变形测试开始后无需拆下测试体，在变形测试中能够保持测试体可采取的形状状态而进行测试体的观察、分析等。该变形测试仪具备：装卸部分，其反复进行第二部相对于第一部的相对位移的位移循环，以使测试体产生从第一形状状态经第二形状状态再次恢复为第一形状状态的规定的变形循环，测试体的至少两个不同部分分别安装于第一部的第一安装部及第二部的第二安装部；以及主体部分，其可装卸地安装有装卸部分，其中，状态保持机构自由装卸于安装在主体部分的装卸部分，且安装有状态保持机构的装卸部分自由装卸于主体部分，该状态保持机构用于将测试体可采取的形状状态中至少一种形状状态下的第二部相对于第一部的相对位置固定。

基本信息

专利标题：

变形测试仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110325837A

申请号：

CN201880014159.5

公开（公告）日：

2019-10-11

申请日：

2018-02-27

授权号：

CN110325837B

授权日：

2022-04-01

发明人：

冈崎恭久安藤直继佐佐木寿朗

申请人：

汤浅系统机器株式会社

申请人地址：

日本冈山县冈山市

代理机构：

北京市磐华律师事务所

代理人：

张明慧

优先权：

CN201880014159.5

主分类号：

G01N3/34

IPC分类号：

G01N3/34