非破坏性检测方法、非破坏性检测装置和非破坏性检测程序
授权
摘要
预先准备表示当使未混入异物的被检测对象穿过传输高频信号时的传输线路(11)的周围空间产生的电磁场时得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的各变化量之比的分布状态的直线的梯度，作为比较的基准。分析装置(13)对比较的基准与对异物的混入不明的被检测对象(20)同样地得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的直线的梯度进行比较，当不同时，检测为该被检测对象(20)中含有异物。
基本信息
专利标题 ：
非破坏性检测方法、非破坏性检测装置和非破坏性检测程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110446919A
申请号 ：
CN201880018524.X
公开（公告）日 ：
2019-11-12
申请日 ：
2018-03-01
授权号 ：
CN110446919B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
昆盛太郎堀部雅弘永石博志
申请人 ：
国立研究开发法人产业技术综合研究所
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
马建军
优先权 ：
CN201880018524.X
主分类号 ：
G01N22/00
IPC分类号 ：
G01N22/00 G01N22/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N22/00
利用微波或者无线电波，即具有一毫米或更大的波长的电磁波测试或分析材料
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2019-12-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 22/00
申请日 : 20180301
申请日 : 20180301
2019-11-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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