引伸计结构
授权
摘要
一种引伸计结构(12)，包括：第一延伸臂(34)，其具有配置为支撑第一试样接合构件(58)的第一安装座(44)；第二延伸臂(36)，其具有配置为支撑第二试样接合构件(58)的第二安装座(46)。连接构件(76,76’)，其在所述第一延伸臂(34)和所述第二延伸臂(36)之间延伸，并在每个对应的安装座(44,46)和所述延伸臂的远端(34,36)之间可枢转地连接至所述第一延伸臂(34)和所述第二延伸臂(36)中的每一个。以及后联接组件，其将所述延伸臂(34,36)的远端连接在一起。
基本信息
专利标题 ：
引伸计结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111630338A
申请号 ：
CN201880081715.0
公开（公告）日 ：
2020-09-04
申请日 ：
2018-12-03
授权号 ：
CN111630338B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
理查德·A·迈耶达斯廷·邦纳戴维·亚普·赤约翰·艾伯特·克里斯琴森
申请人 ：
MTS系统公司
申请人地址 ：
美国明尼苏达州
代理机构 ：
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐飞
优先权 ：
CN201880081715.0
主分类号 ：
G01B5/30
IPC分类号 ：
G01B5/30 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/255
••用于检测轮子的准直
G01B5/30
用于计量固体的变形，例如机械应变仪
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-12-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 5/30
申请日 : 20181203
申请日 : 20181203
2020-09-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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