本发明涉及一种基于荧光光纤的测温方法，解决现有获得荧光寿命方式准确性低的问题。该方法包括以下步骤：步骤1、脉冲激发光源发出脉冲信号，脉冲信号透过分光镜传递至聚光镜，通过聚光镜聚光和光纤耦合器耦合后，传递至光纤探头的荧光材料；步骤2、荧光材料受到脉冲信号的激发，发出相应的激发信号，该激发信号通过光纤耦合器耦合后传输至聚光镜；步骤3、步骤2中的激发信号通过聚光镜后被分光镜反射至光电二极管；步骤4、光电二极管将受激发信号换成需要采集的荧光电信号，从而获得荧光衰减后的电压数据；步骤5、将步骤4中采集到的数据通过最佳位置拟合算法，获得荧光寿命；步骤6：通过步骤5获得的荧光寿命标定温度。