一种激光测振仪
授权
摘要
本发明公开了一种激光测振仪，其中：激光器发射的激光经过隔离器和第一耦合器后分成两束光，第一路光束经过两个声光移频器调制后进入第四耦合器，第二路光束经过第三耦合器后分成校正光束与信号光束；校正光束经过强度相位调制器后进入第二耦合器；信号光束通过光学收发系统照射到待测目标表面，并经环形器后进入第二耦合器；信号光束与校正光束在第二耦合器中进行混合，混合后的光束进入第四耦合器中与参考光干涉后进入平衡探测系统；再通过解调算法获得待测目标的多普勒振动情况，最终得到待测目标的振动信息。上述测振仪可以实现对发射系统杂散光的消除，从而提高系统的探测能力和精度。
基本信息
专利标题 ：
一种激光测振仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110108349A
申请号 ：
CN201910434648.2
公开（公告）日 ：
2019-08-09
申请日 ：
2019-05-23
授权号 ：
CN110108349B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
孔新新张丹丹张文喜伍洲李杨赵亚帅王亚慧
申请人 ：
中国科学院光电研究院;北京航空航天大学
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村东路95号
代理机构 ：
北京凯特来知识产权代理有限公司
代理人 ：
郑立明
优先权 ：
CN201910434648.2
主分类号 ：
G01H9/00
IPC分类号 ：
G01H9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H9/00
应用对辐射敏感的装置，例如光学装置，测量机械振动或超声波、声波或次声波
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-10-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 9/00
申请日 : 20190523
申请日 : 20190523
2019-08-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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