一种集成电路旁路信号自差分放大采样方法与系统
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摘要
本发明涉及集成电路旁路信号自差分放大采样方法与系统，本发明对不同时间点测试向量激励下的待测集成电路芯片(Chip Under Test,CUT)所对应的旁路信号进行自差分放大，采用流水线延迟方式，对CUT 在某一激励下的模拟旁路信号进行延迟，并将其与后续某一时间点的激励所对应的旁路信号同步送入差分放大器。经差分放大后，进行模数转换，并将量化后的数字信号发送至主机，完成自差分旁路信号的采集。本发明可以抑制不同激励下CUT旁路信号中的共同分量，仅将差异分量进行放大，可以获得比通用示波器更高精度的旁路信号，支持模拟信号层面的自差分，可以有效抑制工艺噪声、环境噪声的干扰，能够有效提高硬件木马的检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路旁路信号自差分放大采样方法与系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110197086A
申请号 ：
CN201910523728.5
公开（公告）日 ：
2019-09-03
申请日 ：
2019-06-17
授权号 ：
CN110197086B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
张阳李雄伟陈开颜全厚德李艳谢方方王晓晗马佳巍宋世杰
申请人 ：
中国人民解放军陆军工程大学
申请人地址 ：
河北省石家庄市和平西路97号
代理机构 ：
石家庄国域专利商标事务所有限公司
代理人 ：
李玉祥
优先权 ：
CN201910523728.5
主分类号 ：
G06F21/71
IPC分类号 ：
G06F21/71 G06F21/76
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F21/00
防止未授权行为的保护计算机、其部件、程序或数据的安全装置
G06F21/70
保护特定的内部或外部计算机组件,即保护一个组件从而保护整个计算机
G06F21/71
确保安全计算或信息处理
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2019-09-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 21/71
申请日 : 20190617
申请日 : 20190617
2019-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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