具有对位校准图样的面板装置
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摘要

本发明的面板装置以及对面板装置取得对位校准偏移量的方法,应用在两个板件贴合时的对位公差,分别在两层板件上各设置上不同的图样,利用图样间的变化来判断板件的偏移量。当板件层叠起来时,其中一板件的金属层遮住大部分线条,仅局部线条会在金属层上的狭缝中露出。若完全对位重叠,则狭缝中完全不会露出线条。当沿某一方向偏移时,会逐渐开始出现线条,并且数量越多则偏移量越大,由此依据狭缝中露出的线条数量快速准确地判断两板件叠合后的偏移量。

基本信息
专利标题 :
具有对位校准图样的面板装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112033281A
申请号 :
CN201910588031.6
公开(公告)日 :
2020-12-04
申请日 :
2019-07-02
授权号 :
CN112033281B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
黄功杰苏家正
申请人 :
纬创资通股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新北市
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
王涛
优先权 :
CN201910588031.6
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-06 :
授权
2020-12-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20190702
2020-12-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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