一种基于逐点比对分析的图纹质量检测方法,装置与系统
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摘要

本发明提供一种基于逐点比对分析的图纹质量检测方法,装置与系统,应用于工业现场印刷,包括:用于根据产品的参考图像选取多个定位核和检测区,建立每一检测区与对应距离最近定位核的对应关系,并为每一检测区设置图像检测参数;用于根据产品的多张训练图像进行定位、处理、生成以及统计操作,获取二维待统计数据序列,将所述二维待统计数据序列分析得到的统计数据序列与所述检测阈值生成参数计算得到高检测阈值序列和低检测阈值序列;用于根据产品的待检图像进行定位、处理以及生成操作获取待检数据序列,并将根据所述待检数据序列计算得到的高超差数据序列、低超差数据序列与预设的缺陷检测条件对比,确认所述待检图像的图纹质量检测结果。

基本信息
专利标题 :
一种基于逐点比对分析的图纹质量检测方法,装置与系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110632094A
申请号 :
CN201910671886.5
公开(公告)日 :
2019-12-31
申请日 :
2019-07-24
授权号 :
CN110632094B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
孟然柴华杜继霞王哲贾勇安迪蔡辉郭慧慧孙汝光杨波李根
申请人 :
北京中科慧眼科技有限公司;深圳东和邦泰科技有限公司;郑州睿安智能科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区创业中路32号楼32-1-1-559
代理机构 :
北京远立知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李海燕
优先权 :
CN201910671886.5
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/956  G06T7/70  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-02-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/95
申请日 : 20190724
2019-12-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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