操作MRI装置的方法
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摘要

本发明描述了一种操作MRI装置(1)的方法,所述方法包括以下步骤:在连续成像过程期间识别中心频率(fc1,...,fcn)并记录每个中心频率(fc1,...,fcn);分析中心频率(fc1,...,fcn)以识别MRI装置(1)的主磁场的多个衰减相关特性。本发明还描述了一种MRI装置(1)和一种用于执行方法步骤的计算机程序产品。

基本信息
专利标题 :
操作MRI装置的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110850344A
申请号 :
CN201910762904.0
公开(公告)日 :
2020-02-28
申请日 :
2019-08-19
授权号 :
CN110850344B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
S.比伯A.班普顿M.威斯特A.P.约翰斯通A.德奥利维拉V.莫德尔J.尼斯特勒A.波特哈斯特
申请人 :
西门子医疗有限公司
申请人地址 :
德国埃朗根
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
张贵东
优先权 :
CN201910762904.0
主分类号 :
G01R33/32
IPC分类号 :
G01R33/32  A61B5/055  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/28
G01R33/44到G01R33/64各组中仪器的零部件
G01R33/32
激励或检测系统,例如用射频信号
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-03-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/32
申请日 : 20190819
2020-02-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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