介质损耗测试仪校验方法、装置及系统
授权
摘要
本申请提供了一种介质损耗测试仪校验方法、装置及系统，方法包括：单独控制电压电流标准源向介质损耗测试仪传输预设的测试电流，获取对应的目标测试电流；单独控制电压电流标准源向介质损耗测试仪传输预设的参考电流，获取对应的目标参考电流；由目标测试电流和目标参考电流的各自相位角，获得第一相位角；若经判断测试电流的值与目标测试电流的值的差值未超过预设的测试电流误差上限、参考电流的值与目标参考电流的值的差值未超过预设的参考电流误差上限及预设的第二相位角与第一相位角的差值未超过预设的相位角误差上限，则介质损耗测试仪通过当前校验。本申请能够扩大对介质损耗测试仪进行校验的范围，进而提高校验介质损耗测试仪的准确性。
基本信息
专利标题 ：
介质损耗测试仪校验方法、装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110441722A
申请号 ：
CN201910777882.5
公开（公告）日 ：
2019-11-12
申请日 ：
2019-08-22
授权号 ：
CN110441722B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
宋楠谢丽芳雷雨孙士涛张杰
申请人 ：
华北电力科学研究院有限责任公司;国家电网有限公司
申请人地址 ：
北京市西城区复兴门外地藏庵南巷一号
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
王涛
优先权 ：
CN201910777882.5
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00 G01R27/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2019-12-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20190822
申请日 : 20190822
2019-11-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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