可控硅调光器及交流电源相位检测方法、装置和存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种交流电源相位检测方法，该方法包括：获取交流电源经半桥电路整流后的输出信号；检测所述输出信号中相邻两个高电平信号的上升沿时刻和下降沿时刻；根据所述相邻两个高电平信号的上升沿时刻和下降沿时刻，确定所述交流电源的零点电压的相位。本发明还公开了一种交流电源相位检测装置、可控硅调光器和可读存储介质。本发明旨在有效缩小可控硅调光器的体积，提高可控硅调光器应用的适用性。
基本信息
专利标题 ：
可控硅调光器及交流电源相位检测方法、装置和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110568261A
申请号 ：
CN201910823196.7
公开（公告）日 ：
2019-12-13
申请日 ：
2019-09-02
授权号 ：
CN110568261B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
冯伟卢云逸
申请人 ：
深圳市丰润达科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村宝能科技园9栋9楼I、J、K、R、S、T单位(生产地址:深圳市龙华区观澜凹背社区大富工业区22号硅谷动力数码产业园A6栋第3层)
代理机构 ：
深圳市港湾知识产权代理有限公司
代理人 ：
微嘉
优先权 ：
CN201910823196.7
主分类号 ：
G01R25/00
IPC分类号 ：
G01R25/00 H05B37/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R25/00
测量一个电压与一个电流之间的相位角或者电压之间或电流之间的相位角的装置
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2020-01-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 25/00
申请日 : 20190902
申请日 : 20190902
2019-12-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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