用于测试磁性器件的设备和系统
授权
摘要
本发明涉及用于测试磁性器件的设备和系统。一种用于在腔(q1)内生成可配置的3D磁场向量的线圈布置(1000)，包括：形成腔并具有第一轴(Z)的螺线管(Cz)，具有第二共同轴(X)的第一对线圈(Cx1、Cx2)和具有第三共同轴(Y)的第二对线圈(Cy1、Cy2)，所述三个轴在要被测试的芯片所位于的点处相交。一种测试布置(1210)，进一步包括用于保持液体的容器，并且该容器具有至少一个开口，用于提供通向该至少一个腔的通路。一种测试系统(1360)，进一步包括具有多个电流源的电单元，以及用于放置和保持要被测试的芯片的机械定位机构。
基本信息
专利标题 ：
用于测试磁性器件的设备和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110879345A
申请号 ：
CN201910823610.4
公开（公告）日 ：
2020-03-13
申请日 ：
2019-09-02
授权号 ：
CN110879345B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
O·迪布吕勒M·德莱瓦克P·莱托西
申请人 ：
迈来芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
瑞士伯韦
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
黄嵩泉
优先权 ：
CN201910823610.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2021-09-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20190902
申请日 : 20190902
2020-03-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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