一种基于扫描探针显微镜的材料微/纳尺度的磁热信号探测方法
授权
摘要
本发明提供了一种基于扫描探针显微镜的材料微/纳尺度的磁热信号探测方法，包括扫描探针显微镜平台、具有导电性、导热性与磁性的探针，以及热学回路；首先，接触式探测样品表面形貌，同时热学回路闭合，探测样品的热信号；然后，采用非接触式探测样品的磁信号。与现有技术中通过三次扫描、其中两次为先后采用非接触式扫描得到磁信号和接触式扫描得到热信号相比，该方法简单易行，探测时间缩短，保护了探针与样品表面，同时由于扫描次数减少避免了样品位移偏差而导致的探测精度减小的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种基于扫描探针显微镜的材料微/纳尺度的磁热信号探测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110646640A
申请号 ：
CN201910955872.6
公开（公告）日 ：
2020-01-03
申请日 ：
2019-10-09
授权号 ：
CN110646640B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
王保敏罗帆杨华礼李润伟
申请人 ：
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
申请人地址 ：
浙江省宁波市镇海区中官西路1219号
代理机构 ：
宁波元为知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
赵兴华
优先权 ：
CN201910955872.6
主分类号 ：
G01Q60/58
IPC分类号 ：
G01Q60/58 G01Q60/50 G01Q60/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01Q
扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术
G01Q60/00
特殊类型的SPM或其设备；其基本组成
G01Q60/58
SThM或其设备，例如SThM探针
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-02-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01Q 60/58
申请日 : 20191009
申请日 : 20191009
2020-01-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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