X光传感器灰度校正方法、装置及X光异物检测机
授权
摘要

本发明提出一种X光传感器灰度校正方法、装置及X光异物检测机,其中,方法包括:获取待校正传感器输出的待校正的第一灰度值;根据预存的暗电平灰度值对第一灰度值进行暗电平校正,获得第二灰度值,根据第一灰度值和预存的第一映射关系,确定目标白平衡校正系数;根据目标白平衡校正系数,对第二灰度值进行白平衡校正。本技术方案实现了自适应调整白平衡校正系数的过程,白平衡校正系数充分考虑了各传感器对不同光照的响应之间的差异,是针对不同灰度值所设置的白平衡校正系数,可以减少或消除各传感器响应非线性所带来的条纹现象。

基本信息
专利标题 :
X光传感器灰度校正方法、装置及X光异物检测机
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112710685A
申请号 :
CN201911027091.7
公开(公告)日 :
2021-04-27
申请日 :
2019-10-27
授权号 :
CN112710685B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
胡修稳金鹏查全超
申请人 :
合肥美亚光电技术股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新技术产业开发区望江西路668号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201911027091.7
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2022-06-14 :
授权
2021-05-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/18
申请日 : 20191027
2021-04-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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