一种基于光纤光栅的土体基质吸力准分布式原位测量方法及装置
授权
摘要
本发明公开了一种基于光纤光栅脉冲加热的土体基质吸力准分布式原位测量方法及装置，包括：加热直流电源、高热敏绝缘管(内置电阻丝和光纤光栅)、陶土棒、光纤光栅解调仪和分析处理监测数据的计算机。将制作完成并预先饱和处理的基质吸力传感器埋置在被测土体中，之后静置24h使陶土棒与土体达到水势平衡；连接加热电源对基质吸力传感器内置的电阻丝进行脉冲加热，热量通过导热性能良好的高热敏绝缘管扩散到包裹高热敏绝缘管的陶土棒中；高热敏绝缘管中内置的光纤光栅对温度变化敏感，且温度变化值可通过光纤光栅解调仪采集到的光纤光栅波长数据转化得到；最后通过率定试验建立陶土棒基质吸力与温度变化值之间的函数关系，之后根据水势平衡得到对应温度变化值的土体基质吸力。该测量方法通过热脉冲加热得到温度变化值，根据基质吸力与温度
基本信息
专利标题 ：
一种基于光纤光栅的土体基质吸力准分布式原位测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110793940A
申请号 ：
CN201911104712.7
公开（公告）日 ：
2020-02-14
申请日 ：
2019-11-13
授权号 ：
CN110793940B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
王家琛朱鸿鹄韦超倪钰菲裴华富程刚张春新王东辉郭子奇
申请人 ：
南京大学;中国地质调查局成都地质调查中心
申请人地址 ：
江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
代理机构 ：
南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
冯慧
优先权 ：
CN201911104712.7
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01N33/24 G01K11/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-03-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20191113
申请日 : 20191113
2020-02-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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