一种绝缘子绝缘状态高光谱试验装置
授权
摘要
本申请提供了一种绝缘子绝缘状态高光谱试验装置，包括高光谱发生器、绝缘子运行工况模拟装置、光谱信号处理装置和光谱分析装置；所述高光谱发生器对准由绝缘子工况模拟装置处理后的绝缘子的一侧，所述光谱信号处理装置位于所述绝缘子的另一侧，所述光谱信号处理装置与光谱分析装置电连接。利用绝缘子工况模拟装置可快速实现绝缘子不同状态，来用于高光谱检测和信息采集，提高绝缘子绝缘状态采集效率。
基本信息
专利标题 ：
一种绝缘子绝缘状态高光谱试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920416398.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-03-29
授权号 ：
CN210015185U
授权日 ：
2020-02-04
发明人 ：
刘冲马御棠尚雷周仿荣黄然潘浩文刚易建波赵亚光黄庆聪
申请人 ：
云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请人地址 ：
云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
逯长明
优先权 ：
CN201920416398.5
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01N21/94
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-02-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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