一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器
授权
摘要

本实用新型公开了一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器,包括直尺、测量尺和定位结构,所述测量尺上设置有刻度线,定位结构的上表面和/或下表面为平面,所述直尺的长度方向与测量尺的长度方向垂直,测量尺的长度方向与定位结构的上表面和/或下表面所在平面垂直,测量尺与定位结构或直尺固定连接,测量尺与定位结构固定连接时,测量尺和定位结构能相对直尺上下移动;测量尺与直尺固定连接时,定位结构能相对测量尺上下移动。本实用新型结构简单、使用方便,能够帮助口腔正畸医生更快更方便的准确测量出Spee曲线深度,使得计算牙齿移动所需的间隙量更准确,从而为病人制定更精确的治疗方案。

基本信息
专利标题 :
一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920429987.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-01
授权号 :
CN209371975U
授权日 :
2019-09-10
发明人 :
刘欧胜沈小平
申请人 :
中南大学
申请人地址 :
湖南省长沙市麓山南路932号
代理机构 :
长沙欧诺专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
欧颖
优先权 :
CN201920429987.7
主分类号 :
G01B5/18
IPC分类号 :
G01B5/18  A61C19/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/18
用于计量深度
法律状态
2019-09-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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