一种高隔氧的半导体性能测试设备，它涉及测试设备技术领域。一种高隔氧的半导体性能测试设备它包含箱体、电路板、半导体放置槽、温度传感器、磁学系统、温控系统、控制箱、万用表、显示屏、操控按钮、连接线、半导体器件、测试电路、电源，箱体内部设置电路板，电路板上设有半导体放置槽，半导体放置槽内部固定连接温度传感器，温控系统设置在磁学系统右侧，箱体和控制箱通过连接线连接，控制箱中设有万用表显示屏右侧设有操控按钮，半导体器件和测试电路电性连接，测试电路和电源电性连接。采用上述技术方案后，本实用新型的有益效果为：它的结构设计合理，可以进行多种性能测试，使用方便，可以满足生产厂家对测试设备的要求，适合推广使用。