一种基于荧光高光谱测试的氙灯光源匀光装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型公开了一种基于荧光高光谱测试的氙灯光源匀光装置,属于光学设备领域。包括氙灯光源和光波导,所述氙灯光源的出光口和光波导的入光口之间设置有隔热装置,所述氙灯光源的出光口处设置有第一聚焦透镜,所述光波导的出光口处设置有滤光片组;还包括导光管,所述导光管的一端与光波导的出光端连接,另一端连接有第二聚焦透镜;还包括反射镜,所述反射镜的镜面与第二聚焦透镜相对设置。本实用新型的一种基于荧光高光谱测试的氙灯光源匀光装置通可在荧光高光谱成像中提供较大面积的照射光斑,并使光线均匀的照射在样品上,增加成像效果,且避免了入射光直接照射样品带来接触式损坏的问题。

基本信息
专利标题 :
一种基于荧光高光谱测试的氙灯光源匀光装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920438344.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-02
授权号 :
CN209605939U
授权日 :
2019-11-08
发明人 :
黄智辉陈兴海王金龙黄宇刘业林雷宇博
申请人 :
四川双利合谱科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市经济技术开发区(龙泉驿区)成龙大道二段1118号2栋26层5号
代理机构 :
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 :
邹敏菲
优先权 :
CN201920438344.9
主分类号 :
G01J3/10
IPC分类号 :
G01J3/10  G01J3/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/02
零部件
G01J3/10
专用于光谱学或色度学的光源装置
法律状态
2021-09-28 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01J 3/10
变更事项 : 专利权人
变更前 : 四川双利合谱科技有限公司
变更后 : 江苏双利合谱科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 610010 四川省成都市经济技术开发区(龙泉驿区)成龙大道二段1118号2栋26层5号
变更后 : 214000 江苏省无锡市梁溪区南湖大道飞宏路58-1-108
2019-11-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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