一种二极管质量检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种二极管质量检测装置，包括用于检测二极管质量的仪表和用于接收仪表测量结果并根据仪表测量结果判断二极管是否合格的检测电路，所述检测电路包括控制单元、驱动单元、信号传递单元、信号转换单元和按键单元；所述控制单元包括单片机，所述单片机接收按键单元发出的开始或切换仪表的指令，所述驱动单元设置有驱动芯片，单片机的DUT1～DUT7引脚与驱动芯片的输入引脚之间均设置有光耦元件，所述光耦元件用于传输或隔断单片机发出的控制信号，所述驱动芯片的输出引脚连接多个继电器，所述继电器的常开触点与仪表连接。本实用新型能够解决二极管质量检测时测量仪表不能自动切换的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种二极管质量检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920475902.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-10
授权号 ：
CN210222186U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
刘全学徐建东陈虎强
申请人 ：
郑州易昕电子科技有限公司
申请人地址 ：
河南省郑州市高新区技术产业开发区长椿路高新企业加速器产业园C8-2栋
代理机构 ：
郑州大通专利商标代理有限公司
代理人 ：
陈勇
优先权 ：
CN201920475902.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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