一种模拟环境下的寿命试验装置
授权
摘要
本实用新型属于自动化测试技术领域，公开了一种模拟环境下的寿命试验装置，包括测试箱体，所述插拔测试装置包括用于夹持待测试件的上夹具组件和下夹具组件；所述测试控制系统包括控制模块、与所述插拔测试装置和所述温控组件相连以采集数据的数据采集模块，以及供输入控制指令和显示数据的显示面板，所述控制模块根据控制指令能够控制所述插拔测试装置在预设温度下进行往复插拔动作；本连接器寿命试验装置能够测试得到不同温度下连接器的插拔测试数据，并能够根据用户需要对数据进行处理输出对比结果。
基本信息
专利标题 ：
一种模拟环境下的寿命试验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920488762.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-11
授权号 ：
CN210626572U
授权日 ：
2020-05-26
发明人 ：
徐水元赵志生王弘弦曾祥友
申请人 ：
深圳市宏之都科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩镇罗租第五工业区11栋
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
唐致明
优先权 ：
CN201920488762.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01M13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-05-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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