一种用于轴径表面纹路检测结构
授权
摘要
本实用新型提供一种用于轴径表面纹路检测结构，包括固定顶尖座、伸缩顶尖座和工作台，固定顶尖座和伸缩顶尖座相对设置并安装在工作台上，工作台上位于固定顶尖座和伸缩顶尖座之间放置被测工件的位置上安装有工件支撑V型件，一对被测工件之间配置棉线及砝码用于测量。本实用新型结构简单，操作方便，顶尖可更换固定顶尖座，带有伺服电机驱动，可驱动旋转，并可调速、测速，伸缩顶尖座轴向长度可调，高度可微调。
基本信息
专利标题 ：
一种用于轴径表面纹路检测结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920502363.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-12
授权号 ：
CN209858527U
授权日 ：
2019-12-27
发明人 ：
郑双飞
申请人 ：
无锡万奈特测量设备有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市锡山经济开发区芙蓉中三路99号
代理机构 ：
无锡市朗高知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵华
优先权 ：
CN201920502363.3
主分类号 ：
G01N33/00
IPC分类号 ：
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2019-12-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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