一种普克尔盒消光比检测装置
授权
摘要
本实用新型的一种普克尔盒消光比检测装置，包括光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头，调质组件与第二偏振片处于光源的出射方向，且第二偏振片与光源的发射方向呈45度角设置，且反射镜设置在第二偏振片的上方以获取S偏振光，探头分别装设在第二偏振片和反射镜的输出端。本实用新型通过采用光源、调质组件、第二偏振片、反射镜和探头相结合的结构，将普克尔盒放置在调质组件与第二偏振片之间，利用光源发射出测试光，经过调质组件进行调质后，进入普克尔盒中，分别利用第二偏振片和反射镜以获取P偏振光和S偏振光，并通过探头以获取P偏振光和S偏振光的幅值，从而以准确得到普克尔盒的消光比。
基本信息
专利标题 ：
一种普克尔盒消光比检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920570036.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-25
授权号 ：
CN209745803U
授权日 ：
2019-12-06
发明人 ：
郑煜
申请人 ：
武汉华族激光技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市江夏区庙山经济开发区阳光大道紫昕工业园1#A厂房4层A
代理机构 ：
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 ：
邓佳
优先权 ：
CN201920570036.1
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2019-12-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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