一种SMT半成品测试系统
授权
摘要
本实用新型是一种SMT半成品测试系统，通过探针把104板卡上的被测信号引到载板上，通过设置在载板上的测试电路系统，DEBUG显示单元，总线扩展网络单元等对PC104板卡信号和功能的正确性进行判断，通过控制面板操作把需要的信息显示出来，从而达到产品测试的目的，保证产品质量。本实用新型适用于SMT半成品检测，实现多种项目和产品的检测需要的通用性，实用性、一致性。
基本信息
专利标题 ：
一种SMT半成品测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920580018.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-25
授权号 ：
CN210626609U
授权日 ：
2020-05-26
发明人 ：
徐贵健
申请人 ：
北京盛博协同科技有限责任公司
申请人地址 ：
北京市丰台区科学城海鹰路6号院18号楼
代理机构 ：
北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘洪勋
优先权 ：
CN201920580018.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/067
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-05-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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