一种原位精确测量薄膜材料的微量磨损量的机构

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种原位精确测量薄膜材料的微量磨损量的机构，包括垂直分布的立柱(7)；立柱(7)的上部，与一根水平轴(3)的右端相铰接；水平轴(3)能够围绕立柱(7)的上部，在水平方向进行旋转运动；水平轴(3)的左端固定连接有一个位移传感器(1)；位移传感器(1)通过其下方的探针(4)，用于对放置在其正下方的薄膜材料，在磨损前和磨损后分别进行测量，获得薄膜材料表面在磨损前后的厚度变化量，该厚度变化量作为薄膜材料的磨损量。本实用新型能够测量被测材料在磨损前后的厚度变化量，并通过将该厚度变化量作为磨损量，从而能够更加准确、可靠地比较评价摩擦性能接近、耐磨性差异小的两种不同薄膜材料的耐磨性能。

基本信息

专利标题：

一种原位精确测量薄膜材料的微量磨损量的机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920606254.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-29

授权号：

CN209783513U

授权日：

2019-12-13

发明人：

刘美华王东爱王怀文石岩刘冰张文刚

申请人：

天津商业大学;天津乾宇超硬科技股份有限公司

申请人地址：

天津市北辰区光荣道409号

代理机构：

天津市三利专利商标代理有限公司

代理人：

徐金生

优先权：

CN201920606254.6

主分类号：

G01B7/06

IPC分类号：

G01B7/06