一种半自动指纹模组测试装置
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摘要
本实用新型公开了一种半自动指纹模组测试装置，包括底座，所述底座的顶部一侧中部设有支撑架，所述底座的顶部另一侧中部设有Socket组件转接板，所述Socket组件转接板的顶部安装有针板，所述针板上设有若干个针脚，所述针板的顶部镶嵌有Socket板，所述Socket板的中部设有凹槽，所述凹槽内镶嵌有指纹模组，所述针板顶部周边螺钉固定有压盖座，所述压盖座的中部设有镂空式的开口，所述Socket板镶嵌在所述开口内，所述压盖座的顶部一侧铰链连接有压盖，所述压盖的中部卡接有激励信号板，所述激励信号板贯穿于所述开口，所述激励信号板的中部设有镂空孔，实现指纹采像，达到指纹模组测试目的，代替测试人员按压指纹，提升测试效率、降低人工成本。
基本信息
专利标题 ：
一种半自动指纹模组测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920609165.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-30
授权号 ：
CN209946297U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
刘东威丁波
申请人 ：
图正（无锡）研究院有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市锡山区安镇街道丹山路78号锡东创融大厦A座12层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920609165.7
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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