叠瓦互联失效检测设备及系统
授权
摘要
本实用新型涉及叠瓦互联失效检测设备及系统。所述叠瓦互联失效检测设备(1)包括：供能器，包括从其延伸出的检测连接端头(2)，检测连接端头(2)能够连接至待检测的叠瓦组件(11)；控制器，其连接至供能器并控制、测量供能器对于待检测的叠瓦组件(11)的能源供应以及待检测的叠瓦组件(11)的反馈，以检测叠瓦互联是否失效。所述叠瓦互联失效检测系统包括所述叠瓦互联失效检测设备。采用本实用新型的检测设备及系统，能够大大缩短评失效检测的估周期，可靠性评估方便且准确度高。
基本信息
专利标题 ：
叠瓦互联失效检测设备及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920618630.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-30
授权号 ：
CN210129484U
授权日 ：
2020-03-06
发明人 ：
孙俊尹丙伟陈登运程永梦丁士引李燕群倪孙洋
申请人 ：
成都晔凡科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区世纪城南路599号天府软件园D区6栋505号
代理机构 ：
北京市金杜律师事务所
代理人 ：
刘迎春
优先权 ：
CN201920618630.3
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 H01L31/18
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2020-03-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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