一种合并单元测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种合并单元测试装置，包括用于进行测试数据处理的主板插件，用于进行数据收发处理的光口插件以及分别与主板插件和光口插件连接的电源插件，相比于现有技术中一体式结构的合并单元测试装置，本实用新型提供的合并单元测试装置将主板和光口设计为模块化形式，即主板插件包括第一FPGA芯片以及与第一FPGA芯片连接的ARM处理芯片，光口插件包括第二FPGA芯片以及与第二FPGA芯片连接的光口模块，且第一FPGA芯片与第二FPGA芯片连接，实现了对主板插件的测试数据处理功能与光口插件数据收发处理的任务进行分工，提高了合并单元测试装置对合并单元测试需求的应对能力及合并单元测试装置的整体运算能力和性能。
基本信息
专利标题 ：
一种合并单元测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920626137.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-30
授权号 ：
CN210015177U
授权日 ：
2020-02-04
发明人 ：
蔡明王东鹏樊道庆林寰陈涛曾建兴林峰王之纯郭俊波王晓环苏晓艺郑坤炜郜学思陈文旭郑榆发张欣林梓衡李露琼蔡思雨杨康宜王桂哲赖楷文侯光华
申请人 ：
广东电网有限责任公司;广东电网有限责任公司汕头供电局
申请人地址 ：
广东省广州市越秀区东风东路757号
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
罗满
优先权 ：
CN201920626137.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G05B19/042 G08C17/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-02-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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