一种工业用X光检测平台
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及工业X光检测技术领域,尤其为一种工业用X光检测平台,包括操作台和底座,所述操作台的端面上固定设有底座,所述底座端面上固定设有立柱,所述立柱的正面上滑动连接有横梁,所述横梁的正面中间位置固定设有X轴丝杆总成,所述横梁的正面上滑动连接有主轴底座,所述主轴底座上固定设有X光检测探头,所述横梁的内部螺纹连接有Z轴丝杆总成,所述底座内部的右侧壁焊接工作台电机安装板。本实用新型通过设计设置的X轴丝杆总成、Z轴丝杆总成和工作台电机的配合工作,来实现X光检测探头的各个方向的调整,从而能够满足不同方位的检测并且运用到丝杆的进给,进而达到最佳的检测效果。
基本信息
专利标题 :
一种工业用X光检测平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920631196.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-06
授权号 :
CN210108994U
授权日 :
2020-02-21
发明人 :
陈丽
申请人 :
陈丽
申请人地址 :
河南省郑州市二七区大学路40号郑州大学医学院
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920631196.2
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00 C12M1/34
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2021-04-16 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 23/00
申请日 : 20190506
授权公告日 : 20200221
终止日期 : 20200506
申请日 : 20190506
授权公告日 : 20200221
终止日期 : 20200506
2020-02-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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