一种热电参数测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种热电参数测试装置，分别在上导热块和下导热块上插设加热片以及制冷管，在待测试样品上下表面产生变动的或恒定的温差，并通过插接在上导热块和下导热块内的热电偶测量出待测试样品上下表面的温差，通过Seebeck检测线测量样品上下表面的电压，从而有效的计算出待测试样品的赛贝克系数，且利用四芯探针穿过真空腔体的上盖、上导热块和上陶瓷片顶在待测试样品上，采用四探针法测量待测试样品的电阻率，本实用新型结构简单，可有效提高样品测量数据的准确性和稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种热电参数测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920641925.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-07
授权号 ：
CN209878636U
授权日 ：
2019-12-31
发明人 ：
邾根祥朱沫浥王亚东李超
申请人 ：
合肥科晶材料技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市长江西路669号华源实业园
代理机构 ：
合肥东邦滋原专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张海燕
优先权 ：
CN201920641925.2
主分类号 ：
G01N25/00
IPC分类号 ：
G01N25/00 G01N27/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
法律状态
2019-12-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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