用于导体布置的连续绝缘监测的测量系统
授权
摘要
一种用于电导体布置(12)的连续绝缘监测的测量系统，该电导体布置(12)具有有源导体(3)以及与该有源导体(3)电绝缘的导体结构(14)，其中，导体布置(12)的质量以及有源导体(3)和导体结构(14)的布置使得对于有源导体(3)和导体结构(14)有几乎相同的传播条件适用于对地(E)的电流流动，其中，执行绝缘电阻测量，其中，绝缘监测单元(20)连接在导体结构(14)和地(E)之间，绝缘监测单元(20)将测量电压叠加到电导体布置(12)上，由此生成与导体布置(12)的绝缘电阻成比例的测量电流，所述绝缘电阻在绝缘监测单元(20)中获取并且被评估。
基本信息
专利标题 ：
用于导体布置的连续绝缘监测的测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920647674.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-07
授权号 ：
CN210690686U
授权日 ：
2020-06-05
发明人 ：
迪特尔·黑克尔
申请人 ：
本德尔有限两合公司
申请人地址 ：
德国格伦伯格
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈炜
优先权 ：
CN201920647674.9
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02 G01R27/08 G01R31/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-06-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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