一种外形尺寸检测机构
授权
摘要

本实用新型涉及检测技术领域,公开一种外形尺寸检测机构,包括安装平台和CCD检测组件,CCD检测组件设置于安装平台上,CCD检测组件包括安装架、第一CCD检测组件和第二CCD检测组件,第一CCD检测组件和第二CCD检测组件可滑动地设置于安装架上,第一CCD检测组件位于第二CCD检测组件的上方,第一CCD检测组件和第二CCD检测组件沿工件的外边沿交替排列。本实用新型提供的外形尺寸检测机构,通过沿工件的外边沿交替设置第一CCD检测组件和第二CCD检测组件,可以对工件的整个外边沿进行同步检测,提高了检测效率;同时,第一CCD检测组件和第二CCD检测组件采用上层和下层错位式的设计,可以有效避免不便于安装和相互干涉的问题,提高了检测精度,扩大了适用范围。

基本信息
专利标题 :
一种外形尺寸检测机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920683323.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-14
授权号 :
CN209689561U
授权日 :
2019-11-26
发明人 :
张安平邓君
申请人 :
广东拓斯达科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市大岭山镇大塘朗村长塘路3号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
胡彬
优先权 :
CN201920683323.3
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  B65G47/90  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2019-11-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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