CSP测试夹具
授权
摘要
本实用新型涉及半导体测试装置领域,公开了一种CSP测试夹具,包括夹具本体和底座;夹具本体的端面上设置有电路板;电路板上设置有用于与产品对应连接的探针;底座罩在电路板上并连接于夹具本体上;夹具本体在探针位置设置有真空孔;夹具本体内设置有真空腔;夹具本体远离电路板的一面上设置有电源线;夹具本体远离电路板的一面上还设置有真空吸管;真空吸管与真空腔连接;底座可在外力作用下向夹具本体弹性压缩;底座上设置有与探针对应的缺口;底座向夹具本体压缩时探针刚好可以伸出底座上的缺口;通过在电路板上设置用于接触产品上电极的探针,避免了因产品上点胶过多导致的电极接触不良的情况,检测结果更精准。
基本信息
专利标题 :
CSP测试夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920733776.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-21
授权号 :
CN209945677U
授权日 :
2020-01-14
发明人 :
冯一赟
申请人 :
昆山芯乐光光电科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇水秀路2080号3号房
代理机构 :
苏州通途佳捷专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李阳
优先权 :
CN201920733776.2
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02 G01M11/00 G01R31/00 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-01-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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