光谱仪用全反射装置的压样头
授权
摘要
一种光谱仪用全反射装置的压样头，包括压样杆、样品圈、压缩弹簧、弹簧罩和固定座。本实用新型有利于实现形状不规则、尺寸不统一的颗粒样品在光谱分析仪器上固定测试，而且操作简单方便。
基本信息
专利标题 ：
光谱仪用全反射装置的压样头
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920739907.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-22
授权号 ：
CN210465255U
授权日 ：
2020-05-05
发明人 ：
郑留念李纪华黄磊
申请人 ：
荧飒光学科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区嘉定工业区城北路1355号1幢7层718—2室
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN201920739907.8
主分类号 ：
G01N21/3563
IPC分类号 ：
G01N21/3563 G01N21/35 G01N21/552
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3563
用于分析固体，及其样品制备
法律状态
2020-05-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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