低电压宽带宽高速电流采样电路
授权
摘要

本实用新型提供了一种低电压宽带宽高速电流采样电路,其包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管、第七晶体管、第八晶体管、第九晶体管、第十晶体管、第十一晶体管、第十二晶体管、第一电阻以及第二电阻。与相关技术相比,本实用新型的低电压宽带宽高速电流采样电路,其能够在电源电压低的情况下正常工作,同时能够进行高速采样。

基本信息
专利标题 :
低电压宽带宽高速电流采样电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920755141.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-24
授权号 :
CN210243733U
授权日 :
2020-04-03
发明人 :
李经珊
申请人 :
深圳市思远半导体有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽街道第五工业区外经工业厂房A栋502
代理机构 :
广东广和律师事务所
代理人 :
陈巍巍
优先权 :
CN201920755141.2
主分类号 :
G01R19/00
IPC分类号 :
G01R19/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
法律状态
2020-04-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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