适用于低压台区拓扑识别的分支监测装置及监测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种适用于低压台区拓扑识别的分支监测装置及监测系统，该分支监测装置包括：电压过零点检测模块，电压过零点检测模块与火线电连接；主控模块，主控模块与电压过零点检测模块电连接；IGBT驱动模块，IGBT驱动模块与主控模块电连接；以及IGBT模块，IGBT模块为电路开关，IGBT模块与IGBT驱动模块电连接，同时IGBT模块分别与火线和零线电连接。本实用新型的分支监测装置及监测系统能够实现低压台区分支监测过程，并且由于所有能检测到信号的分支监测装置都是本装置的上级分支，将所有的分支监测装置按照同样的策略操作一遍后，各监测装置将记录的信息汇集到上级分支集中，在总保开关中生成的拓扑信息就能得到整个台区分支物理拓扑结构。
基本信息
专利标题 ：
适用于低压台区拓扑识别的分支监测装置及监测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920792147.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-29
授权号 ：
CN210071975U
授权日 ：
2020-02-14
发明人 ：
张港红霍超白晖峰郑利斌李新军王立城甄岩侯莹莹苑佳楠尹志斌高建
申请人 ：
北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
代理机构 ：
北京中誉威圣知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙彦斌
优先权 ：
CN201920792147.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/08 G01R19/175 H02J13/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-02-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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