一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置，其包括绝缘手柄、绝缘开合套环、MEMS光纤微电流传感器、放大处理模块、显示器和电源，所述绝缘开合套环由两个可相互开合的绝缘套臂组成，分别为左绝缘套臂和右绝缘套臂，两个绝缘套臂可转动连接在绝缘手柄的前端，且在两个绝缘套臂上设有四个MEMS光纤微电流传感器，所述MEMS光纤微电流传感器用于检测绝缘子串周围的磁场，并将检测的信号传输给放大处理模块，所述放大处理模块对接收到的信号放大处理后，将计算结果输送至显示器进行实时显示。本实用新型不受电磁干扰，以非接触式的测量方式可及时发现隐患，提高绝缘子运维效率。

基本信息

专利标题：

一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920796516.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-30

授权号：

CN210323255U

授权日：

2020-04-14

发明人：

李伟靳鹏飞裴蕴智

申请人：

中科伟博（苏州）智能科技有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市张家港市塘桥镇妙桥科创路东城科技创业园C幢2楼中科伟博

代理机构：

南京天华专利代理有限责任公司

代理人：

夏平

优先权：

CN201920796516.X

主分类号：

G01R31/12

IPC分类号：

G01R31/12