PIV片光标定装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种PIV片光标定装置，包括底座、支撑架和标定直尺；所述支撑架竖向延伸且所述支撑架的下端与所述底座固定连接或者可枢转连接；当所述支撑架的下端与所述底座固定连接时，所述标定直尺可枢转地设置在所述支撑架的上端；当所述支撑架的下端与所述底座可枢转连接时，所述标定直尺沿着所述支撑架延伸方向固定在所述支撑架上。本实用新型的PIV片光标定装置，可以实现片光精准标定，且结构简单小巧、操作方便，尤其适用于狭窄空间。
基本信息
专利标题 ：
PIV片光标定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920799373.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-29
授权号 ：
CN209946199U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
王淑婵姚心董择上杜富瑞郭天宇孙铭阳
申请人 ：
中国恩菲工程技术有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区复兴路12号
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋合成
优先权 ：
CN201920799373.8
主分类号 ：
G01P21/02
IPC分类号 ：
G01P21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01P
线速度或角速度、加速度、减速度或冲击的测量；运动的存在或不存在的指示；运动的方向的指示、传播时间或传播方向来测量固体物体的方向或速度入G01S；核辐射速度的测量入G01T）
G01P21/00
包含在本小类其他组中的仪表或装置的测试或校准
G01P21/02
速度计的
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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