一种可进行水平校准的电子分析天平

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种可进行水平校准的电子分析天平，包括电子分析天平本体，电子分析天平本体的下表面固定安装有找平装置，找平装置的下表面固定安装有底座，底座的下表面固定安装有支撑装置，通过调整支撑装置观察找平装置上气泡水平仪进行找平，然后将电子分析天平本体放置到找平板上，拧动找平板，使找平板与电子分析天平本体紧密贴合，观察电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪的偏差，然后将电子分析天平本体上水平仪进行清零，进而对电子分析天平本体进行水平较准，通过拧动螺杆，使螺杆的上端与电子分析天平本体紧密贴合，调整电子分析天平本体上水平仪与气泡水平仪均处于零点，能够观察出电子分析天平的倾斜程度。

基本信息

专利标题：

一种可进行水平校准的电子分析天平

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920824251.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-03

授权号：

CN209764224U

授权日：

2019-12-10

发明人：

丁杭英

申请人：

江苏中泰检测检验有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市江阴市滨江西路8号3号楼413室

代理机构：

深圳市创富知识产权代理有限公司

代理人：

曾敬

优先权：

CN201920824251.X

主分类号：

G01G19/00

IPC分类号：

G01G19/00 G01G23/01