一种高频局部放电用具有防尘结构的分析仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种高频局部放电用具有防尘结构的分析仪,包括框架机构和支撑机构,所述框架机构的前端设置有显示设备,且显示设备的上下两端均设置有支撑机构,所述支撑机构包括控制杆、二级杆、固定座、转轴和定位槽,所述控制杆的前端设置有二级杆,且二级杆的前端设置有固定座,所述固定座的下方设置有转轴,且转轴的下方设置有定位槽。该高频局部放电用具有防尘结构的分析仪,与现有的普通分析仪相比,增加结构的同时大大提高了整个装置的实用性能,改良后的设备在使用过程中具有更加良好的防护能力,其实设备的显示操作设备可以通过旋转升缩收起,从而对设备的整体外部结构实现保护操作,有效满足了人们的使用需求。

基本信息
专利标题 :
一种高频局部放电用具有防尘结构的分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920858751.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-10
授权号 :
CN210427704U
授权日 :
2020-04-28
发明人 :
沈佳华陈晓颖繆志敏王迪琴杨加浩
申请人 :
杭州国洲电力科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市拱墅区七古登208号B座三楼301室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920858751.5
主分类号 :
G01R31/12
IPC分类号 :
G01R31/12  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2020-04-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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