光电耦合器低频噪声测试夹具

授权

摘要

本实用新型涉及一种光电耦合器低频噪声测试夹具，属于电子器件检测设备，包括底座；设置在所述底座内的电路板，所述电路板上设置有安装被测光电耦合器的定位管座，并且所述电路上设置有测试光电耦合器的测试电路；以及设置在所述底座上的屏蔽结构，所述屏蔽结构为所述电路板提供一个屏蔽测试电路的干扰信号和外部干扰信号的空间。本实用新型能够在测试过程中屏蔽干扰信号，提高测试结果的准确性。

基本信息

专利标题：

光电耦合器低频噪声测试夹具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920917668.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-18

授权号：

CN211122927U

授权日：

2020-07-28

发明人：

何黎陈芳孔舒

申请人：

武汉格物芯科技有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东西湖区辛安渡办事处张长湖96号-92（15）

代理机构：

北京聿华联合知识产权代理有限公司

代理人：

刘硕

优先权：

CN201920917668.0

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04 G01R29/26