分立元件综合参数测试仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种分立元件综合参数测试仪，包括单片机、交流平均值测量电路、温度传感器、时钟模块、电感测量电路、电阻测量电路、电容测量电路、液晶显示屏、频率计和电源模块，交流平均值测量电路、温度传感器、时钟模块、电感测量电路、电阻测量电路、电容测量电路、液晶显示屏和电源模块均与单片机连接；电源模块包括电压输入端、第一电阻至第三电阻、第一三极管、第二三极管、第一电容、第四电位器、第一二极管、第三三极管、第四三极管、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第五三极管、第八电阻、时基芯片、第九电阻、第二电容、第十电阻和电压输出端。本实用新型电路结构较为简单、成本较低、方便维护、电路的安全性和可靠性较高。
基本信息
专利标题 ：
分立元件综合参数测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920932327.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-20
授权号 ：
CN211180079U
授权日 ：
2020-08-04
发明人 ：
罗广勋
申请人 ：
广东华能机电有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市天河区燕岭路95号1501房
代理机构 ：
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张学府
优先权 ：
CN201920932327.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 H02H9/02 G05B19/042 G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-08-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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