基于量子弱值放大的高精度光纤湿度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于量子弱值放大的高精度光纤湿度测量装置，包括：宽带激光器、第一准直器、45°起偏片、第一双折射晶体、干燥气室、被测气室、半波片、第二双折射晶体、相位补偿片、‑45°检偏片、第二准直器、光谱解调仪；宽带激光器的输出与所述第一准直器的输入端相连；第一准直器的输出端先通过45°起偏片，形成45°线偏振光，经过第一双折射晶体分为两路，其中一路通过一段被测量气室，另外一路通过一段干燥气室，然后两路光路分别直接通过半波片，再进入第二双折射晶体，最后通过相位补偿片，经‑45°检偏片后，耦合到第二准直器，通过第二准直器进入光谱解调仪中。
基本信息
专利标题 ：
基于量子弱值放大的高精度光纤湿度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920948920.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-21
授权号 ：
CN210155032U
授权日 ：
2020-03-17
发明人 ：
崔洪亮罗政纯于淼王忠民常天英郑志丰
申请人 ：
珠海任驰光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市软件园路1号生产加工中心4#二层1，3单元
代理机构 ：
济南圣达知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵敏玲
优先权 ：
CN201920948920.4
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01N21/01 G01N21/03
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2020-03-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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