平整度检测设备和检测件

授权

摘要

本实用新型公开一种平整度检测设备和检测件。平整度检测设备用于对待测表面进行平整度检测，其包括光网装置和检测件，光网装置用于提供光网，光网由若干条交错的光线构成网状，检测件至少包括抵靠部和遮挡部，抵靠部用于抵靠在待测表面上，遮挡部用于置于光网内，遮挡部构造为，当抵靠部抵靠在待测表面的具有不同平整度的位置时，遮挡部对光线的有效遮挡数量不同。本实用新型的平整度检测设备和检测件，将检测件置于光网中，检测件因检测位置的高度不同，实际遮挡光网中的光线的数量不同，通过遮挡光网中的光线的数量可以得到检测位置的高度，这种平整度的检测设备结构简单，制备成本低。

基本信息

专利标题：

平整度检测设备和检测件

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920970773.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-26

授权号：

CN210165912U

授权日：

2020-03-20

发明人：

于子鹏

申请人：

深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司

申请人地址：

广东省深圳市坪山区龙田街道青兰一路8号

代理机构：

深圳市君之泉知识产权代理有限公司

代理人：

吕战竹

优先权：

CN201920970773.0

主分类号：

G01B11/30

IPC分类号：

G01B11/30