高温饱气分析煤微晶结构的卡片式原位池
授权
摘要

高温饱气分析煤微晶结构的卡片式原位池,包括池体,池体的右侧设有样品卡槽,样品卡槽内卡设有样品载体卡块和固定卡块,池体的上表面安装有第一圆形窗口片,池体的左侧设有第一接线口,第一接线口中设有导线密封接头,池体的前侧和后侧分别设有外进气孔和外出气孔,外进气孔中安装有快接单向阀公头,外出气孔中安装有精密微型调压阀;样品载体卡块的上表面设有样品容纳槽,样品载体卡块的左侧设有第二接线口,样品载体卡块的前侧和后侧分别设有内进气孔和内出气孔,样品载体卡块的下表面安装有第二圆形窗口片,样品容纳槽内设有加热线圈和温度传感器,第二接线口内设有压力传感器。本实用新型装样取样方便,体积小巧,便于与多种仪器搭配使用。

基本信息
专利标题 :
高温饱气分析煤微晶结构的卡片式原位池
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921016883.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-02
授权号 :
CN210243466U
授权日 :
2020-04-03
发明人 :
王凯潘结南葛涛元牟朋威王珂杨艳辉
申请人 :
河南理工大学
申请人地址 :
河南省焦作市高新区世纪大道2001号
代理机构 :
郑州豫开专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
朱俊峰
优先权 :
CN201921016883.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/3563  G01N21/65  G01N23/20008  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-04-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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