基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置。它包括对中基盘、调平基座、定位盘和高精度测距仪；所述调平基座连接固定于所述对中基盘上；所述调平基座包括位于上端的水平结构，位于所述水平结构上的调平结构，和位于所述水平结构上的调平显示结构；水平结构中部设有第一通孔；所述定位盘位于所述第一通孔内；所述定位盘中部设有接口，所述高精度测距仪位于所述接口内。本实用新型具有高效率、高精度、低成本的优点。

基本信息

专利标题：

基于精密激光测距仪的拱顶沉降测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921019397.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-02

授权号：

CN210108333U

授权日：

2020-02-21

发明人：

李双平严建国郑敏刘祖强王峥严凤吴瑕

申请人：

长江空间信息技术工程有限公司（武汉）;长江勘测规划设计研究有限责任公司

申请人地址：

湖北省武汉市汉口解放大道1863号

代理机构：

武汉宇晨专利事务所

代理人：

王敏锋

优先权：

CN201921019397.3

主分类号：

G01C5/00

IPC分类号：

G01C5/00 G01C15/00 G01B11/02