非均匀性矫正装置及探测器
授权
摘要
本申请实施例提供了一种非均匀性矫正装置和探测器。所述非均匀性矫正装置应用于探测器，所述探测器包括镜头，所述非均匀性矫正装置包括：矫正单元、驱动单元、锁紧部件和安装底座；所述矫正单元的一端与所述探测器的所述镜头相适配，另一端与所述驱动单元连接；所述驱动单元安装于所述安装底座上，所述驱动单元带动所述矫正单元转动，以对所述探测器进行非均匀性矫正；所述锁紧部件用于使所述矫正单元与所述驱动单元紧固连接，以在对所述探测器进行非均匀性矫正过程中使所述驱动单元带动所述矫正单元转动。该非均匀性矫正装置结构简单，实现了在需要对探测器的焦距进行调节时，对探测器进行非均匀性矫正，操作简单，方便快捷。
基本信息
专利标题 ：
非均匀性矫正装置及探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921039404.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-04
授权号 ：
CN210119295U
授权日 ：
2020-02-28
发明人 ：
周津同吕生翟晓光
申请人 ：
北京华科德科技有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区科技园区超前路35号北京化工大学科技园综合楼301、302、303、304室
代理机构 ：
北京合智同创知识产权代理有限公司
代理人 ：
李杰
优先权 ：
CN201921039404.6
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2020-02-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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