光谱仪、光学组件的定位结构及光学元件的定位结构
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摘要

一种光学组件的定位结构及光学元件的定位结构,适用于光谱仪。光学组件的定位结构包括第一定位部、第二定位部、第一定位销以及第二定位销。第一定位部具有第一定位圆孔与定位长孔。定位长孔的长轴延伸线穿过第一定位圆孔。第二定位部具有第二定位圆孔与第三定位圆孔。第二定位圆孔与第一定位圆孔在位置上相对应,第三定位圆孔与定位长孔在位置上相对应。第一定位销适配且插置于第一定位圆孔与第二定位圆孔。第二定位销适配定位长孔的一短轴尺寸与第三定位圆孔,且插置于定位长孔与第三定位圆孔。此外,一种具有光学组件的定位结构的光谱仪亦被提出。

基本信息
专利标题 :
光谱仪、光学组件的定位结构及光学元件的定位结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921043776.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-05
授权号 :
CN211043108U
授权日 :
2020-07-17
发明人 :
马为颀张癸五
申请人 :
台湾超微光学股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹市东区新庄里关新路27号9楼之5
代理机构 :
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 :
李有财
优先权 :
CN201921043776.6
主分类号 :
G01N21/25
IPC分类号 :
G01N21/25  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2020-07-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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